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TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术,,,,它通过一次离子束脉冲轰击样品表面,,,,层叠碰撞产生二次离子,,根据二次离子飞行时间分离不同质荷比离子,,对被轰击的样品表面(1-3个原子层)进行分析,,,,能够检测包括氢在内的全部元素及其同位素的信息,,并能分析化合物组分和分子构成。。。。
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TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术,,它通过一次离子束脉冲轰击样品表面,,,,层叠碰撞产生二次离子,,,根据二次离子飞行时间分离不同质荷比离子,,对被轰击的样品表面(1-3个原子层)进行分析,,,,能够检测包括氢在内的全部元素及其同位素的信息,,,并能分析化合物组分和分子构成。。
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